IM7581阻抗分析儀Z快0.5ms，覆蓋100kHz~300MHz的低頻 ● 測量頻率1MHz~300MHz ● 測量時(shí)間：Z快0.5ms ● 基本精度±0.72%rdg. ● 緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小、測試頭僅手掌大小 ● 豐富的接觸檢查功能（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定） ● 使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號(hào)電平的同時(shí)進(jìn)行測量

IM7583阻抗分析儀高速、高穩(wěn)定性測量，提高生產(chǎn)量！測量時(shí)間：Z快0.5ms；使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號(hào)電平的同時(shí)進(jìn)行測量

IM7585阻抗分析儀高速、高穩(wěn)定性測量，提高生產(chǎn)量！測量時(shí)間：Z快0.5ms，測量值偏差0.07% ● 測量頻率：1MHz~1.3GHz

IM7587 阻抗分析儀 可信賴的機(jī)型3GHz ● 測試電壓測量頻率：1MHz~3GHz ● 測量時(shí)間：Z快0.5ms（模擬測量時(shí)間） ● 測量值偏差：0.07%（測量頻率1GHz時(shí)的代表值） ● ● 緊湊主機(jī)僅機(jī)架一半大小，測試頭尺寸僅手掌大小 ● 豐富的接觸檢查（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定） ● 分析模式下可以邊掃描測量頻率、測量信號(hào)電平邊進(jìn)行測量

3504-60 C測試儀封裝機(jī)、分選機(jī)、電容器的合格與否的判斷和等級(jí)分類等 ● 高速測量2ms ● 能根據(jù)C 和D （損耗系數(shù)*2）的測量值，進(jìn)行被測物合格與否的判斷 ● 對應(yīng)測試線，比較器功能/觸發(fā)輸出功能 ● 3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測物體的測試 ● 3504-40記錄工具，實(shí)現(xiàn)高速/低成本的測試 ● 查出全機(jī)測量中的接觸錯(cuò)誤，提高成品率

3504-50 C測試儀封裝機(jī)、分選機(jī)、電容器的合格與否的判斷和等級(jí)分類等 ● 高速測量2ms ● 能根據(jù)C 和D （損耗系數(shù)*2）的測量值，進(jìn)行被測物合格與否的判斷 ● 對應(yīng)測試線，比較器功能/觸發(fā)輸出功能 ● 3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測物體的測試 ● 3504-40記錄工具，實(shí)現(xiàn)高速/低成本的測試 ● 查出全機(jī)測量中的接觸錯(cuò)誤，提高成品率

3504-40 C測試儀 封裝機(jī)、分選機(jī)、電容器的合格與否的判斷和等級(jí)分類等 ● 高速測量2ms ● 能根據(jù)C 和D （損耗系數(shù)*2）的測量值，進(jìn)行被測物合格與否的判斷 ● 對應(yīng)測試線，比較器功能/觸發(fā)輸出功能 ● 3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測物體的測試 ● 3504-40記錄工具，實(shí)現(xiàn)高速/低成本的測試 ● 查出全機(jī)測量中的接觸錯(cuò)誤，提高成品率

3506-10 LCR測試儀 對應(yīng)1MHz測試, 低容量,高精度,高速測試 ● 模擬測量時(shí)間0.6ms（1MHz）的高速測量 ● 提高了抗干擾性，在產(chǎn)線的上也能實(shí)現(xiàn)高反復(fù)精度 ● 1kHz、1MHz測量下，低電容的貼片時(shí)可穩(wěn)定測量 ● 根據(jù)BIN的測定區(qū)分容量